名称：水下高光谱剖面仪

型号：Profiler II

品牌：加拿大satlantic

安装时间：2017-3

设备简介

Profiler II可做自由落体式的水色剖面测量，也可以连接一个分离式的浮筒对海水近表面水层进行测量(HyperTSRB)。它可以搭载多光谱或高光谱传感器，给研究者提供多种环境、多用途的光学测量平台，还可选配电导率、温度、WET Labs ECO puck传感器，在测量固有光学特性的同时，提供更加全面的综合测量。Profiler II可以提供的数据有：离水辐亮度、遥感反射、能量通量、有效光合辐射和漫衰减系数等。

主要技术参数

1.采样频率：最大12Hz

2.耐压水深：220m

3.压力传感器：测量范围30 bar (435 psi)，测量精度0.01 %全量程，测量分辨率0.002 %全量程，10 bar (145 psi)可选

4.外置温度传感器：测量范围2 ~+ 32℃，测量精度0.005℃测量分辨率0.001℃

5.电导率传感器测量范围0-70mS/cm，测量精度0-70mS/cm，测量分辨率0.001 mS/cm

6.其他可选传感器：WET Labs ECO系列传感器、荧光计、后向散射计、浊度计