l仪器简介
扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。
l仪器参数：
加速电压：200V-30KV
高真空模式：3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV
低真空模式：3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV
环境真空模式：3.0nm @ 30kV
背散射电子：4.0nm @ 30kV
帕尔帖控温台：-20°C到60°C
l仪器功能应用：
•生物样品微观形貌、结构，样品的微区元素成份及线分布、面分布；
•自然状态下生物材料的原位研究；
•材料、金属、陶瓷、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、等材料的显微形貌分析。
